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J-GLOBAL ID：201702280201092318   整理番号：17A0739061

光干渉断層画像化法による塗装膜検査システムの開発

著者 (5件)： 高橋義行 (山形県工技セ) ,  橋本智明 (山形県工技セ) ,  今野俊介 (山形県工技セ) ,  内田和弘 (ティーワイテクノ) ,  寺崎政人 (ティーワイテクノ)
資料名： 山形県工業技術センター報告  (Reports of Yamagata Research Institute of Technology)
号： 48  ページ： 54-59  発行年： 2017年03月 
JST資料番号： F0568A  ISSN： 0286-813X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ・自動車塗装は化成処理鋼板に下塗り/中塗り/上塗り等の積層塗装膜であり,各層膜厚を非破壊で計測する方法は無く,レーザよりも低いコヒーレンス光源のSLDやLEDを使った特異的干渉計により非破壊/非接触で断層解析する光干渉断層画像化法(OCT),GPGPUの利用技術,当所開発の微小域の光走査用MEMSミラー等を利用した塗装膜の非破壊検査システムを開発。
・塗装各層のOCTによる膜厚計測値を断面解析結果と比較し,表面下3層では各層夫々0.9以上の相関性を取得。
・独自開発スペクトロメータとSoC-FPGAボード開発,MEMSミラーを用いた光走査機構で,膜厚測定時間100msを達成し,11L程度の省容積の膜厚計を装置化。
・塗装膜評価アルゴリズムとしてOCTデータに対してテクスチャ解析を適用し有用性を確認。

シソーラス用語： 塗装 ,  積層構造 ,  塗膜 ,  *システム ,  非破壊測定 ,  非接触測定 ,  *光干渉断層計 ,  *発光ダイオード ,  光源 ,  *専用プロセッサ ,  利用 ,  光走査 ,  *反射鏡 ,  *非破壊検査 ,  分析 ,  相関 ,  スペクトロメータ ,  超LSI ,  FPGA ,  画像分析 ,  有効性
準シソーラス用語： *GPGPU ,  *LED ,  *MEMSミラー ,  *SLD ,  SOC【IC】 ,  テクスチャ解析 ,  *検査システム ,  自動車塗装 ,  相関性 ,  断面解析

分類 (5件)： 非破壊試験  (HB02030F) ,  干渉測定と干渉計  (BD07070G) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  発光素子  (NC03082G) ,  塗料の性質  (YJ03020Q)

引用文献 (7件)：

• 久米政文;クルマの塗料・塗装方法の進化,JAMAGAZINE,2007.4
• 丹野直弘;光コヒーレンス断層画像化法と生体映像への応用,光学,28(1995)
• 高橋義行 他;スペクトルドメイン型光干渉計の開発,山形県工業技術センター報告,No.38(2006)
• Yoshiyuki Takahashi et al.; Application of the Maximum Entropy Method to Spectral-domain Optical Coherence Tomography for Enhancing Axial Resolution, Applied Optics, 46(2007)
• 今野俊介 他;GPUを使った非接触リアルタイム板厚計測システムの開発,日本シミュレーション学会予稿,29(2010)

タイトルに関連する用語 (5件)： 光干渉 ,  断層画像 ,  塗装膜 ,  検査システム ,  開発