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J-GLOBAL ID：201702281706048857   整理番号：17A1256338

動的記号実行における多数試験点の経路還元【Powered by NICT】

Path reduction of multiple test points in dynamic symbolic execution

著者 (3件)： Lu Jiawen (School of Information Science & Engineering, East China University of Science and Technology, Shanghai, China) ,  Cai Lizhi (School of Information Science & Engineering, East China University of Science and Technology, Shanghai, China) ,  Zhang Yang (School of Information Science & Engineering, East China University of Science and Technology, Shanghai, China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： ICIS  ページ： 857-863  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 動的記号実行(DSE)は,自動試験のためのテストケースを生成するために広く使用されている。しかし,DSEの実用性を経路爆発,実行パスの数は,プログラムのサイズの増加と共に指数関数的に増加することに起因する避けられない課題であるが大幅に減少した。この問題を緩和するために,複数の試験点(MPDSE)に基づく動的記号的実行方式は,本論文で提案した冗長経路を減少させることによりDSEの効率を改善することである。試験点と枝の間の依存性を解析することにより,MPDSE冗長経路を探索する除去できるように等価経路は図示した。著者らの実験は,MPDSEは伝統的なDSEと比較して生成するテストケースの利点を持つことを示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *自動試験
準シソーラス用語： テストケース , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (4件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  移動通信  (ND08030H) ,  ディジタル計算機方式一般  (JC02010O) ,  計算機システム開発  (JD02010R)

タイトルに関連する用語 (4件)： 記号 ,  試験 ,  経路 ,  還元