文献

J-GLOBAL ID：201702282205660196   整理番号：17A0467830

テラヘルツ波ケミカル顕微鏡を用いた電極評価法の検討

著者 (6件)： 藤原健太郎 (岡山大) ,  川上祐輝 (岡山大) ,  日野佑次 (岡山大) ,  堺健司 (岡山大) ,  紀和利彦 (岡山大) ,  塚田啓二 (岡山大)
資料名： 表面探傷シンポジウム講演論文集
巻： 20th  ページ： 55-56  発行年： 2017年03月09日 
JST資料番号： L7208A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： テラヘルツ波 ,  *走査型プローブ顕微鏡 ,  *電気化学反応 ,  電位 ,  膜電極 ,  白金電極 ,  接触電位差 ,  放射強度 ,  フェムト秒レーザ ,  硫酸ナトリウム ,  水溶液 ,  ヘキサシアノ鉄酸カリウム ,  走査型電気化学顕微鏡
準シソーラス用語： 電気化学顕微鏡

分類 (1件)： 電気化学反応  (CB07050F)

タイトルに関連する用語 (4件)： テラヘルツ波 ,  ケミカル ,  顕微鏡 ,  評価法