Rossetto I. について
Department of Information Engineering, University of Padova, Padova, Italy について
Meneghini M. について
Department of Information Engineering, University of Padova, Padova, Italy について
Canato E. について
Department of Information Engineering, University of Padova, Padova, Italy について
Barbato M. について
Department of Information Engineering, University of Padova, Padova, Italy について
Stoffels S. について
imec, Kapeldreef 75, 3001 Leuven, Belgium について
Posthuma N. について
imec, Kapeldreef 75, 3001 Leuven, Belgium について
Decoutere S. について
imec, Kapeldreef 75, 3001 Leuven, Belgium について
Tallarico A.N. について
ARCES-DEI, University of Bologna, Cesena, Italy について
Meneghesso G. について
Department of Information Engineering, University of Padova, Padova, Italy について
Zanoni E. について
Department of Information Engineering, University of Padova, Padova, Italy について
Microelectronics Reliability について
電力 について
漏れ電流 について
マグネシウム について
電場 について
界面 について
電圧 について
ドーピング について
伝送線路 について
窒化ガリウム について
パルス について
絶縁破壊電圧 について
逆バイアス について
電圧ストレス について
ゲートバイアス について
電流駆動 について
GaNH EMT について
p-GaNゲート について
伝送線路パルス(TLP) について
長期信頼性 について
トランジスタ について
電界 について
GaN について
ゲート について
EMT について
電流駆動 について
分解 について
Mg について
ドーピング について
依存性 について