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J-GLOBAL ID:201702283414785987   整理番号:17A0852339

漏洩磁束探傷における速度効果を考慮した任意の欠陥プロファイルの再構成のための正確なインバージョン【Powered by NICT】

Precise Inversion for the Reconstruction of Arbitrary Defect Profiles Considering Velocity Effect in Magnetic Flux Leakage Testing
著者 (4件):
資料名:
巻: 53  号:ページ: ROMBUNNO.6201012.1-12  発行年: 2017年 
JST資料番号: A0339B  ISSN: 0018-9464  CODEN: IEMGAQ  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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磁束漏洩型非破壊検査(NDT)では,速度効果,欠陥信号の歪を引き起こし,欠陥プロフィルの推定精度を低下させる可能性があるが存在する。本論文では,歪を有限要素法(FEM)を用いて解析し,欠陥プロファイルの再構成に及ぼす速度効果の影響をシミュレーションと実験の条件下で検討した。本論文では,異なる速度条件における任意の欠陥プロファイルを再構成するための効果的な方法を提案した。提案した方法では,考慮したFEM速度効果は順モデルとして採用した。重みづけ共役勾配アルゴリズムは二勾配方向における欠陥プロフィルを繰り返し更新に適用した。アルゴリズムの有効性は,種々の速度条件下での人工欠陥の系列で試験した。結果は,提案したモデルが無視速度効果モデルよりも優れた再構成精度を達成できることを示した。提示した方法の特性は非常に安定であり,それらはNDTのためのプロファイル再構成の実用化のためのこの手法の有望な技術にするロバストである。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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分類 (1件):
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非破壊試験 
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