Wu Cheng-Hung について
Dept. of EE, National Cheng Kung University, Taiwan について
Lee Kuen-Jong について
Dept. of EE, National Cheng Kung University, Taiwan について
Reddy Sudhakar M について
Dept. of EE, University of Iowa, USA について
IEEE Conference Proceedings について
回路変換 について
相互接続 について
トランジスタ について
品質 について
CMOS について
モデル について
統一模型 について
テストパターン について
ATPG について
断層モデル について
攻撃者 について
遷移故障 について
テスト生成 について
遅延故障 について
CMOS集積回路 について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
CAD,CAM について
CMOS回路 について
遅延故障 について
テスト生成 について