Kim Junghwan について
Department of Electrical & Electronic Engineering, Yonsei University, Seoul, Korea について
Lee Young-woo について
Department of Electrical & Electronic Engineering, Yonsei University, Seoul, Korea について
Cheong Minho について
Department of Electrical & Electronic Engineering, Yonsei University, Seoul, Korea について
Seo Sungyoul について
Department of Electrical & Electronic Engineering, Yonsei University, Seoul, Korea について
Kang Sungho について
Department of Electrical & Electronic Engineering, Yonsei University, Seoul, Korea について
IEEE Conference Proceedings について
方法論 について
故障 について
捕獲 について
クロック について
ATPG について
テストパターン生成 について
スキャン・パス について
試験方法 について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
半導体集積回路 について
信頼性 について
スクリーン について
スキャンパス について
故障 について
試験方法 について