McCann Scott について
Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA, USA について
Sato Yoichiro について
Asahi Glass Company Ltd., Tokyo, Japan について
Ogawa Tomo について
Asahi Garasu Kabushiki Kaisha, Tokyo, Japan について
Tummala Rao R. について
Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA, USA について
Sitaraman Suresh K. について
Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA, USA について
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability について
亀裂 について
キャラクタリゼーション について
信頼性 について
亀裂伝搬 について
再分布 について
板ガラス について
脆性 について
エネルギー解放率 について
高分子 について
複屈折 について
ガラス について
熱サイクル について
銅 について
ダイシング について
ガラス基板 について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
固体デバイス製造技術一般 について
設計指針 について
予防 について
ガラス について
再分布 について
応力 について
複屈折 について