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J-GLOBAL ID：201702284246014305   整理番号：17A0991609

交流電場(ACEF)下におけるスズの大気腐食挙動

Atmospheric Corrosion Behavior of Tin Under an Alternating Current Electric Field

著者 (3件)： HUANG H. L. (Wuhan Inst. Technol., Wuhan, CHN) ,  TIAN J. (Wuhan Inst. Technol., Wuhan, CHN) ,  ZHANG G. A. (Huazhong Univ. Sci. and Technol., Wuhan, CHN)
資料名： Journal of Electronic Materials  (Journal of Electronic Materials)
巻： 46  号： 7  ページ： 4359-4372  発行年： 2017年07月 
JST資料番号： D0277B  ISSN： 0361-5235  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： スマートフォン,ラップトップ,デジタルカメラなどの電子製品の幅広い応用により,それらは私たちの生活の不可欠な部分になりつつある。そして,電子部品の寿命はますます注目されている。本研究では,錫の大気腐食挙動を,開回路電位(OCP),ポテンシャルダイナミック分極,電気化学インピーダンス分光(EIS)測定,および自家製の薄層電気化学セルを使用した表面分析を用いて調査した。調査結果は,ACEFの下で,錫腐食電位の正のシフトが錫の陰極プロセスの顕著な加速に起因している可能性があり,錫腐食速度の増加は,錫表面膜の破壊,イオンの移動,およびACEF下でのスズの非対称分極に起因することを示した。

シソーラス用語： *交流電場 ,  *スズ ,  *大気腐食 ,  電子部品 ,  電極電位 ,  *スペクトロスコピー ,  *表面分析 ,  腐食電位
準シソーラス用語： 開回路電位 ,  電気化学インピーダンス分光法

分類 (2件)： 腐食基礎理論,腐食試験  (WB03020Q) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (4件)： 交流電場 ,  スズ ,  大気 ,  腐食挙動