Byrne C. について
School of Physical Sciences, Dublin City University, Dublin 9, Ireland について
Brennan B. について
National Physical Laboratory, Hampton Road, Teddington TW11 0LW, United Kingdom について
Lundy R. について
Stokes Laboratories, University of Limerick, Co. Limerick, Ireland について
Bogan J. について
School of Physical Sciences, Dublin City University, Dublin 9, Ireland について
Brady A. について
School of Physical Sciences, Dublin City University, Dublin 9, Ireland について
Gomeniuk Y.Y. について
Tyndall National Institute, University College Cork, Lee Maltings, Prospect Row, Cork, Ireland について
Gomeniuk Y.Y. について
V. Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics, NAS of Ukraine, 41, pr. Nauki, Kyiv, Ukraine について
Monaghan S. について
Tyndall National Institute, University College Cork, Lee Maltings, Prospect Row, Cork, Ireland について
Hurley P.K. について
Tyndall National Institute, University College Cork, Lee Maltings, Prospect Row, Cork, Ireland について
Hughes G. について
School of Physical Sciences, Dublin City University, Dublin 9, Ireland について
Materials Science in Semiconductor Processing について
電圧 について
電気的性質 について
薄膜 について
界面 について
半導体 について
二酸化ケイ素 について
透過型電子顕微鏡 について
走査電子顕微鏡 について
焼なまし について
銅 について
X線光電子分光法 について
MOS構造 について
アルミニウム について
酸化アルミニウム について
バリア層 について
自己形成障壁 について
銅 について
アルミニウム について
XPS について
ToF-SIMS について
容量 について
MOS について
TEM について
拡散 について
相互接続 について
イオン移動度 について
固体デバイス材料 について
半導体薄膜 について
固体デバイス製造技術一般 について
障壁層 について
二酸化けい素 について
予防 について
銅 について
拡散 について
物理 について
化学 について
電気的特性 について
評価 について