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J-GLOBAL ID：201702285026140094   整理番号：17A1235855

X線蛍光を用いた銀強度マッピングによる放射線フィルムのための可視化法【Powered by NICT】

Visualization method for radiographic films through silver intensity mapping using X-ray fluorescence

著者 (8件)： Goncalves E.A.S. (Federal Institute of Rio de Janeiro, Rio de Janeiro, Brazil) ,  Goncalves E.A.S. (Physics Institute, Rio de Janeiro State University, Rio de Janeiro, Brazil) ,  Oliveira D.F. (Nuclear Instrumentation Laboratory, COPPE, Federal University of Rio de Janeiro, Rio de Janeiro, Brazil) ,  Oliveira D.F. (Physics Institute, Rio de Janeiro State University, Rio de Janeiro, Brazil) ,  Anjos M.J. (Physics Institute, Rio de Janeiro State University, Rio de Janeiro, Brazil) ,  Assis J.T. (Department of Mechanical Engineering and Energy, Polytechnic Institute, Rio de Janeiro State University, Rio de Janeiro, Brazil) ,  Oliveira L.F. (Physics Institute, Rio de Janeiro State University, Rio de Janeiro, Brazil) ,  Lopes R.T. (Nuclear Instrumentation Laboratory, COPPE, Federal University of Rio de Janeiro, Rio de Janeiro, Brazil)
資料名： X-Ray Spectrometry  (X-Ray Spectrometry)
巻： 46  号： 5  ページ： 361-366  発行年： 2017年 
JST資料番号： D0456B  ISSN： 0049-8246  CODEN： XRSPAX  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： X線膜は広い範囲の応用をもっている。これらの応用の多くにおいて,特性曲線の挙動は,画像品質およびラジオグラフィー装置を評価するために非常に重要である。X線フィルムディジタル化と可視化は常に光透過により行い,特性曲線は,放射線被曝の関数としての光学密度の挙動として知られている。光学密度はハロゲン化銀における化学開発により生成された金属銀の関数であるため,画像を光透過により可視化した場合,銀量マップは間接的に見られた。しかし,この測定は光学機器によって制限され,非常に弱い光信号は背景光または背景雑音と区別できない。このようにして,高度に暴露された膜を,種々の銀濃度を持つ領域を含むことができるが,光学密度測定は限られているので,これは見られなかった。そのような限界を克服する可能な方法の一つは,開発した膜上に残存する銀の量を確認するための異なる方法を使用することである,この目的に適する定量的技術の一つはX線蛍光(XRF)である。本論文の目的は,従来のX線フィルムに及ぼす低光学コントラストを有する物体を検出するための逐点銀強度マップを得るために,μ-XRFを適用することである。本研究の結果は,XRFを用いた測定における高い直線範囲を示し,結果として,低コントラストまたは過剰に暴露された溶接X線画像中の小物体と詳細を銀マッピング法により可視化することができ,同じ結果が光透過法を用いて達成できなかった。空間分解能及びコントラストについての最初のアプローチは放射線フィルムを走査するこの方法の長所と短所を示しした。Copyright 2017 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 光透過 ,  X線画像 ,  ラジオグラフィー ,  *X線 ,  *可視化 ,  写像 ,  X線フィルム ,  *蛍光 ,  コントラスト ,  吸光度 ,  特性曲線 ,  空間分解能 ,  *銀 ,  ハロゲン化銀 ,  画質

著者キーワード (4件)： 放射線フィルム ,  光学密度 ,  銀濃度 ,  μ-XRFイメージング

分類 (1件)： 感光材料  (ZA03020Q)

タイトルに関連する用語 (7件)： X線 ,  蛍光 ,  銀 ,  マッピング ,  放射線 ,  フィルム ,  可視化