Yang Y.D. について
Key Laboratory for Electronic Measurement Technology North University of China, Taiyuan 030051, China について
Mao H.Y. について
Institute of Microelectronics of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100029, China について
Xiong J.J. について
Key Laboratory for Electronic Measurement Technology North University of China, Taiyuan 030051, China について
Jia Y.C. について
Institute of Microelectronics of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100029, China について
Li R.R. について
Key Laboratory for Electronic Measurement Technology North University of China, Taiyuan 030051, China について
Ming A.J. について
Institute of Microelectronics of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100029, China について
Wang W.B. について
Institute of Microelectronics of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100029, China について
IEEE Conference Proceedings について
ナノワイヤ について
重合体 について
RIE【エッチング】 について
プラズマ重合 について
衝撃 について
プラズマ について
ポリイミド について
リソグラフィー について
重合 について
可視光 について
スピンコーティング について
微細加工 について
ナノフォレスト について
波長領域 について
光導波路,光ファイバ,繊維光学 について
固体デバイス製造技術一般 について
プラズマ について
重合 について
ナノワイヤ について
森林 について
光学的特徴 について