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J-GLOBAL ID：201702286532863961   整理番号：17A1355359

二次元磁気結合要素を用いた板検査のための渦電流プローブインピーダンス計算の新しいプロセス【Powered by NICT】

New process of the eddy current probe impedance calculation for plate inspection using bidimensional Magnetically Coupled Elements

著者 (4件)： Belhamri A. (Electrical Engineering Laboratory of Bejaia, Bejaia University, Algeria) ,  Hicham A. (L2EI Laboratory, University of Jijel, Algeria) ,  Yonnet J. (G2E Lab, St Martin d’Heres, France) ,  Chebout M. (L2EI Laboratory, University of Jijel, Algeria)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： INTERMAG  ページ： 1  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 渦電流非破壊試験(ECNDT)のための欠陥検出機構は欠陥を有する金属試験片中に誘起された渦電流の相互作用,及び試験プローブセンサを用いたこれらの相互作用効果の結合に関係している。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *インピーダンス ,  故障検出 ,  相互作用 ,  *二次元 ,  *渦電流 ,  非破壊検査
準シソーラス用語： *電流プローブ ,  *磁気結合 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 非破壊試験  (HB02030F)

タイトルに関連する用語 (6件)： 磁気結合 ,  要素 ,  検査 ,  渦電流 ,  計算 ,  プロセス