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J-GLOBAL ID：201702286565558131   整理番号：17A1708006

シンクロトロンベースのX線光電子分光法により特性評価したCH_3NH_3PbI_3上の室温原子層堆積したAl_2O_3【Powered by NICT】

Room temperature atomic layer deposited Al₂O₃ on CH₃NH₃PbI₃ characterized by synchrotron-based X-ray photoelectron spectroscopy

著者 (6件)： Kot Malgorzata (Brandenburg University of Technology Cottbus-Senftenberg, Konrad-Wachsmann-Allee 17, 03046 Cottbus, Germany) ,  Das Chittaranjan (Brandenburg University of Technology Cottbus-Senftenberg, Konrad-Wachsmann-Allee 17, 03046 Cottbus, Germany) ,  Henkel Karsten (Brandenburg University of Technology Cottbus-Senftenberg, Konrad-Wachsmann-Allee 17, 03046 Cottbus, Germany) ,  Wojciechowski Konrad (Clarendon Laboratory, University of Oxford, Parks Road, Oxford OX13PU, United Kingdom) ,  Snaith Henry J. (Clarendon Laboratory, University of Oxford, Parks Road, Oxford OX13PU, United Kingdom) ,  Schmeisser Dieter (Brandenburg University of Technology Cottbus-Senftenberg, Konrad-Wachsmann-Allee 17, 03046 Cottbus, Germany)
資料名： Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms  (Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms)
巻： 411  ページ： 49-52  発行年： 2017年 
JST資料番号： H0899A  ISSN： 0168-583X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： メチルアンモニウム鉛三ヨウ化物(CH_3NH_3PbI_3)ペロブスカイト上に堆積した超薄Al_2O_3膜はキャリア再結合過程を抑制し,ペロブスカイト太陽電池効率と安定性を改善する能力を有している。しかし,85°Cより高い温度でのアニーリングはCH_3NH_3PbI_3ペロブスカイト膜を劣化させる。本研究で行ったX線光電子分光法研究は,室温でペロブスカイト上に原子層堆積によりAl_2O_3を成長させることが可能であることを示している,しかしながら,純粋なAl_2O_3に加えていくつかのOH基を見出し,Al_2O_3/CH_3NH_3PbI_3界面での鉛とよう素酸化物の生成が起こる。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： *X線光電子分光法 ,  *キャラクタリゼーション ,  ヨウ素 ,  太陽電池 ,  キャリア再結合 ,  焼なまし ,  酸化物 ,  鉛 ,  *X線光電子スペクトル ,  界面 ,  ヒドロキシ基 ,  三ヨウ化物
準シソーラス用語： *ALCVD , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： シンクロトロンベースのX線光電子分光法 ,  ペロブスカイト太陽電池 ,  原子層堆積 ,  Al_2O_3

分類 (5件)： 滅菌法  (EG02040C) ,  金属結晶の磁性  (BM06040T) ,  その他の物質の放射線による構造と物性の変化  (BK16124V) ,  半導体のルミネセンス  (BM08092S) ,  物理的手法を用いた吸着の研究  (CB12043P)

タイトルに関連する用語 (5件)： シンクロトロン ,  X線光電子分光法 ,  特性評価 ,  室温 ,  原子層堆積