文献

J-GLOBAL ID：201702287428174625   整理番号：17A0606580

Si(111)√3×√3-B表面上Ag(111)超薄膜のImage Potential Stateの測定

著者 (7件)： 菅原喜周 (東京工大 理) ,  長瀬謙太郎 (東京工大) ,  山崎詩郎 (東京工大 理) ,  山崎詩郎 (東京工大) ,  中辻寛 (東京工大) ,  平山博之 (東京工大 理) ,  平山博之 (東京工大)
資料名： 日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
巻： 72  号： 1  ページ： ROMBUNNO.17aK-PS-25  発行年： 2017年03月21日 
JST資料番号： S0671C  ISSN： 2189-079X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 結晶方位 ,  構造 ,  *銀 ,  *超薄膜 ,  *鏡像ポテンシャル ,  走査型トンネル顕微鏡 ,  Stark効果 ,  分散【dispersion】 ,  量子井戸
準シソーラス用語： Si(111) ,  超構造 ,  Ag ,  走査トンネル顕微鏡 ,  バンド分散

分類 (2件)： 金属薄膜  (BK14030T) ,  表面の電子構造  (BM02080J)

タイトルに関連する用語 (3件)： Si ,  Ag ,  薄膜