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J-GLOBAL ID:201702288607867180   整理番号:17A1271847

構造解析を用いた故障診断のための構造指標値1の半陽的生成DAE【Powered by NICT】

Generating semi-explicit DAEs with Structural Index 1 for fault diagnosis using structural analysis
著者 (2件):
資料名:
巻: 2017  号: ICRA  ページ: 5812-5817  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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構造解析は,無人機(UAV)における故障検出と同定のための有利な選択肢である,詳細な,大規模数学モデルを扱う。残差発生器を生成し,自動故障検出を実現するための搭載飛行コンピュータで用いることができる。動的システムに適用した現代のアルゴリズムは,微分代数方程式(DAE)システムの実時間解を必要とする残差発生器をもたらす可能性がある。各DAEシステムの形態と微分屈折率に依存して,その解は計算により可能でないかもしれない。本論文では,構造解析アルゴリズムとの間の関係とそれが産生する,生成されたすべてのDAEでは,構造指数1と半陽的条件を提案し,という性質をもつ大規模固定翼U AVモデルを提供するDAEシステムの形態を調べた。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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