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J-GLOBAL ID：201702290100313956   整理番号：17A0540694

散乱線の測定による減弱係数の推定精度向上~光電吸収の導入~

Improvement of Estimation Accuracy of Attenuation Coefficient using Scattered X-Rays

著者 (5件)： 中神徹也 (愛知県大) ,  戸田尚宏 (愛知県大) ,  山崎陽一 (関西学院大) ,  吉岡博貴 (愛知県大) ,  小山修司 (名古屋大 脳とこころの研究セ)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 116  号： 520(MBE2016 82-102)  ページ： 75-78  発行年： 2017年03月06日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 近年X線CT(X-ray Computed Tomography)はコーンビーム化へと進んでおり,コーン角の増加に伴い散乱線の含有度合も大きく増加している。散乱線は,再構成像上に偽像(アーティファクト)を発生させる大きな要因となるので,古くからグリッド(あるいはコリメータ)の性能向上が課題とされ,努力がなされてきた。しかしながら,物体がなければ散乱線は生じないことを考えると,散乱線にも物体の情報が含まれており,散乱線が,直接線とは独立な成分を含んでいるならば,これを用いることで減弱係数の推定精度が向上するはずである。従って,同じ画質を得るためであれば,現在より被爆を低減させられる可能性がある。前報では,光電吸収を考慮しない条件下において,問題を簡略化した上で,数学的なモデルを導出し,散乱線利用の有効性を理論的に示した。本報告では,以前のモデルを光電吸収も考慮したモデルに拡張し,より一般的な状況下における散乱線利用の有効性を理論的に示す。さらに,この理論的洞察の有効性に関して,細シリンダを配置した体系でモンテカルロ法による数値実験により検証する。(著者抄録)

シソーラス用語： 放射線量 ,  *減衰定数 ,  *精度 ,  改良 ,  行列 ,  シミュレーション ,  数学モデル ,  *X線散乱 ,  X線CT ,  光電効果 ,  X線検出器 ,  放射線検出 ,  画像再構成 ,  医用画像 ,  計測 ,  *パラメータ推定
準シソーラス用語： Fisher情報行列 ,  モンテカルロシミュレーション ,  減弱係数 ,  散乱線量 ,  *推定精度 ,  精度向上 ,  放射線測定

分類 (1件)： 放射線検出・検出器  (AD08020J)

引用文献 (14件)：

• J. Hsieh: ”Computed Tomography: Principles, Design, Artifacts and Recent Advances”, SPIE Press, Bellingham (2003).
• K. Tokumoto, Y. Yamazaki, N. Toda and S. Koyama: ”Evaluation of Scattered Radiation in Cone-Beam Dual-Energy X-ray CT with Monte Carlo Simulation”, The Radiological Society of North America (RSNA) 98th Scientific Assembly and Annual Meeting, pp.SSG16-02 (2012).
• P. Lale: ”The Examination of Internal Tissues, using Gamma-ray Scatter with a Possible Extension to Megavoltage Radiography”, Physics in Medicine and Biology, 4, 2, pp.159-167 (1959).
• S. J. Norton: ”Compton scattering tomography”, Journal of Applied Physics, 76, 4, pp.2007-2015 (1994).
• T. Truong and M. Nguyen: ”New properties of the V-line Radon transform and their imaging applications”, Journal of Physics A: Mathematical and Theoretical, 48, 40, pp.405204-405232 (2015).

タイトルに関連する用語 (4件)： 散乱線 ,  減弱係数 ,  推定 ,  精度向上