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J-GLOBAL ID:201702290388183974   整理番号:17A0933038

ITO/n-Siヘテロ接合光起電素子におけるの効率的不動態化とトンネル効果ハイブリッドa-SiOx(In)層

Effective Passivation and Tunneling Hybrid a-SiOx(In) Layer in ITO/n-Si Heterojunction Photovoltaic Device
著者 (8件):
資料名:
巻:号: 20  ページ: 17565-17575  発行年: 2017年05月24日 
JST資料番号: W2329A  ISSN: 1944-8244  CODEN: AAMICK  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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清浄な単結晶性n-Siウエハ上にITO薄膜(70nm)をRFマグネトロンスパッタリングして,ITO/SiOx(In)/n-Si接合を作成し,界面層の形態と相構造,特性をHR-TEM,XPS,XRD,Hall効果および光透過性測定により調べた。ITO薄膜とSiOx(In)ハイブリッド層は,それぞれ,多結晶,無定形相を示し,その界面領域ではSiO2/Inの濃度勾配が認められた。DFT理論と組み合わせた第一原理計算から,3成分ハイブリッド系[a-SiOx(In)]の存在が予測され,SiOx層中にIn原子にる中間ギャップが誘導され,そのEvは+4.60Vで障壁高を下げ,正孔の直接トンネリング確率を高めた。a-SiOx(In)層の浅いアクセプター準位により,n-Siバルクの表面に形成されたp型反転層や,SiOx(In)層内のO欠陥点が光誘起正孔のトンネル経路として作用することが予測された。このように,3成分ハイブリッド[a-SiOx(In)]の光電変換機構には種々の要因が存在することが示唆された。ハイブリッド[a-SiOx(In)]の表面にAl/AgとAlを真空蒸着して作成したAl/Ag/ITO/SiOx(In)/n-Si/Alデバイスはその電流密度-電圧特性から,フィルファクター(FF)74.2%,光電変換効率12.2%の優れた光電変換能を持つことが明らかになった。
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分類 (3件):
分類
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太陽電池  ,  13-15族化合物を含む半導体-半導体接合  ,  光伝導,光起電力 

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