文献

J-GLOBAL ID：201702290654837352   整理番号：17A1365499

蓄積電荷測定法による有機半導体/金属界面の電荷注入障壁測定

著者 (8件)： 田島裕之 (兵県大) ,  角屋智史 (兵県大) ,  山田順一 (兵県大) ,  佐藤井一 (兵県大) ,  大塚理人 (兵県大) ,  荻野晃成 (兵県大) ,  横松得滋 (兵県大 工) ,  前中一介 (兵県大 工)
資料名： 日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
巻： 72  号： 2  ページ： ROMBUNNO.23pE21-2  発行年： 2017年09月25日 
JST資料番号： S0671C  ISSN： 2189-079X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *有機半導体 ,  キャリア注入 ,  金属 ,  *界面 ,  ポリヘキシルチオフェン ,  *障壁 ,  *固固界面 ,  大環状化合物 ,  窒素複素環化合物 ,  架橋化合物 ,  芳香族縮合化合物
準シソーラス用語： ポリ(3-ヘキシルチオフェン) ,  *電荷注入障壁

分類 (1件)： 半導体と絶縁体の電気伝導一般  (BM03041P)

物質索引 (1件)： フタロシアニン

タイトルに関連する用語 (6件)： 蓄積電荷 ,  測定法 ,  有機半導体 ,  界面 ,  電荷注入 ,  障壁