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J-GLOBAL ID：201702297241309760   整理番号：17A0240703

貯蔵過渡誤り耐性を持つASICのためのECCモジュール最適化【Powered by NICT】

ECC module optimization for storage transient error-tolerant ASICs

著者 (1件)： Inoue Keisuke (Department of Global Information And Management, Kanazawa Technical College, Ishikawa, Japan 921-8601)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： ICECS  ページ： 269-272  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,特定用途向け集積回路(ASIC)の過渡的誤差問題を検討した。レジスタに対する一時的な誤差は,システムの他の部分に伝搬できるので,ASICの貯蔵部(レジスタ)に特に焦点を当てた。ECCモジュールは低コストでASICの信頼性を最大化する制御された適切にした新しい誤り訂正符号(ECC)をベースにした高位合成手法を提案する。もECCモジュールの数を最小化するための整数線形計画法に基づく方法を提案し,実証した例は,提案した方法の有効性を示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： レジスタ ,  整数線形計画法 ,  *ASIC ,  信頼性 ,  *最適化 ,  誤り訂正符号 ,  *改変
準シソーラス用語： 高位合成 ,  *誤り耐性 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 専用演算制御装置  (JC04030Y)

タイトルに関連する用語 (6件)： 貯蔵 ,  誤り耐性 ,  ASIC ,  ECC ,  モジュール ,  最適化