特許
J-GLOBAL ID：201703000191733248
貫入試験方法及び装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
亀崎 伸宏
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-151285
特許番号：特許第6037539号
出願日： 2016年08月01日
要約：
【課題】作業の負担を軽減する。
【解決手段】貫入試験装置1による貫入試験方法は、一体圧密工程S100と打撃工程S200とを備えている。一体圧密工程S100では、有底の内管11、及び内管11の外側に重ねられている無底の外管12を有している二重管10を、回転させながら地盤に突き入れる。打撃工程S200では、一体圧密工程S100で地盤に突き入れられた二重管10を地中に維持したまま、N値を求めるために内管11を上方から打撃する。二重管10は、外管12の下端内側に固定されて内管11との間に介在している円筒形状のスペーサー13を有している。
【選択図】図1
請求項（抜粋）：
【請求項1】 有底の内管、前記内管の外側に重ねられている無底の外管、及び前記外管の下端内側に固定されて前記内管との間に介在している円筒形状のスペーサーを有している二重管を、回転させながら地盤に突き入れる一体圧密工程と、
前記一体圧密工程で地盤に突き入れられた前記二重管を地中に維持したまま、N値を求めるために前記内管を上方から打撃する打撃工程と、
前記打撃工程によって前記内管が前記外管と比較して地盤の深部に到達した後に、前記外管を回転させながら地盤に突き入れて、前記内管と略同じ地盤の深部に到達させる外管圧密工程と、を備えていることを特徴とする
貫入試験方法。
IPC (2件)：
E02D 1/02 ( 200 6.01)
, G01N 3/40 ( 200 6.01)
