特許
J-GLOBAL ID：201703000577523302

波長選択装置及び分光測定装置

発明者：
北澤 正吾

北澤 正吾 について


出願人/特許権者：
パイオニア株式会社

パイオニア株式会社 について


代理人 (1件)： 特許業務法人レクスト国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-070654
公開番号（公開出願番号）：特開2017-181361
出願日： 2016年03月31日
公開日（公表日）： 2017年10月05日
要約：
【課題】フィルタの正確な波長選択特性を得ることが可能な波長選択装置及び分光測定装置を提供する。【解決手段】互いに対向する基板上に設けられ、光学距離をおいて互いに対向する一対の反射膜を有する第1のフィルタと、互いに選択波長が異なる複数のフィルタ領域を有する第2のフィルタと、第1のフィルタを通過した光の光強度を検出する第1の検出領域と第1及び第2のフィルタを通過した光の光強度を検出する第2の検出領域とを有する検出部と、第2の検出領域が検出した光強度に基づいて第1のフィルタの選択波長を算出する算出部と、を有する。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
互いに対向する基板上に設けられ、光学距離をおいて互いに対向する一対の反射膜を有する第1のフィルタと、 互いに選択波長が異なる複数のフィルタ領域を有する第2のフィルタと、 前記第1のフィルタを通過した光の光強度を検出する第1の検出領域と前記第1及び第2のフィルタを通過した光の光強度を検出する第2の検出領域とを有する検出部と、 前記第2の検出領域が検出した前記光強度に基づいて前記第1のフィルタの選択波長を算出する算出部と、を有することを特徴とする分光測定装置。
IPC (3件)：
G01J 3/26 ,  G01J 3/36 ,  G02B 26/00
FI (3件)：
G01J3/26 ,  G01J3/36 ,  G02B26/00
Fターム (22件)：
2G020CB04 ,  2G020CC23 ,  2G020CC26 ,  2G020CC55 ,  2G020CC63 ,  2G020CD24 ,  2G020CD37 ,  2H141MA22 ,  2H141MB28 ,  2H141MC06 ,  2H141MD02 ,  2H141MD04 ,  2H141MD38 ,  2H141ME01 ,  2H141ME11 ,  2H141ME23 ,  2H141ME24 ,  2H141MG10 ,  2H141MZ03 ,  2H141MZ13 ,  2H141MZ16 ,  2H141MZ28
引用特許：
審査官引用 (3件)

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