特許
J-GLOBAL ID：201703000739221224
磁気ディスク用ガラス基板及び磁気ディスク
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
伊東 忠重
, 伊東 忠彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-081536
公開番号（公開出願番号）：特開2017-107630
出願日： 2016年04月14日
公開日（公表日）： 2017年06月15日
要約：
【課題】磁気ディスクの歩留まりを向上させることのできる磁気ディスク用ガラス基板を提供する。【解決手段】主表面を有し、中心部に円形状の孔を有する円盤形状の磁気ディスク用ガラス基板であって、前記磁気ディスク用ガラス基板の中心部側の内周側面部において、原子間力顕微鏡により測定した算術平均粗さRaが0.7nm以下であって、原子間力顕微鏡により測定した結果に基づき、所定の領域を、前記主表面に平行な方向に対して角度方向を0°から180°まで1°ごとに変化させながら各々の角度方向における角度方向算術平均粗さRa_degを算出し、前記算出された角度方向算術平均粗さRa_degのうち、最も大きい値を角度方向算術平均粗さ最大値Ra_deg_maxとし、最も小さい値を角度方向算術平均粗さ最小値Ra_deg_minとした場合に、(Ra_deg_max)-(Ra_deg_min)の値が、0.15nm以上、1.0nm以下であることを特徴とする磁気ディスク用ガラス基板を提供することにより上記課題を解決する。【選択図】 図5
請求項（抜粋）：
主表面を有し、中心部に円形状の孔を有する円盤形状の磁気ディスク用ガラス基板であって、
前記磁気ディスク用ガラス基板の中心部側の内周側面部において、原子間力顕微鏡により測定した算術平均粗さRaが0.7nm以下であって、
原子間力顕微鏡により測定した結果に基づき、所定の領域を、前記主表面に平行な方向に対して角度方向を0°から180°まで1°ごとに変化させながら各々の角度方向における角度方向算術平均粗さRa_degを算出し、前記算出された角度方向算術平均粗さRa_degのうち、最も大きい値を角度方向算術平均粗さ最大値Ra_deg_maxとし、最も小さい値を角度方向算術平均粗さ最小値Ra_deg_minとした場合に、
(Ra_deg_max)-(Ra_deg_min)の値が、0.15nm以上、1.0nm以下であることを特徴とする磁気ディスク用ガラス基板。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (3件)：
5D006CB04
, 5D006CB07
, 5D006DA03
