特許
J-GLOBAL ID：201703001982645667

直線検出装置および直線検出方法

発明者：
長谷川 弘

長谷川 弘 について


出願人/特許権者：
株式会社メガチップス

株式会社メガチップス について


代理人 (3件)： 坂根 剛 ,  中西 健 ,  上羽 秀敏
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-027551
公開番号（公開出願番号）：特開2016-085763
特許番号：特許第6208789号
出願日： 2016年02月17日
公開日（公表日）： 2016年05月19日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 アスペクト比が1:1でない対象画像に対して、アスペクト比を1:1に変換するアスペクト比変換処理を実行することにより、前記対象画像よりも画像の変形度合いが増加した正方画像を生成するアスペクト比変換部と、 前記正方画像の基準点から前記正方画像内の任意の直線に下した垂線の長さρおよび前記垂線が前記基準点を通る基準軸となす角θを用いて、前記正方画像内の任意の直線を表現することにより、前記正方画像内の任意の点を通る直線をハフ空間内の座標(θ、ρ)に変換するハフ変換部と、 ハフ空間内の各座標(θ、ρ)について、前記ハフ変換部によって変換された回数を集計し、各座標(θ、ρ)の集計値が第1の閾値を超える座標(θ、ρ)を特定することにより、前記正方画像における直線を検出し、前記正方画像上で検出した直線に対して、アスペクト比を元に戻す演算を行うことにより、アスペクト比が1:1でない前記対象画像内に含まれる直線に変換する検出部と、 を備える直線検出装置。
IPC (1件)：
G06T 7/60 ( 201 7.01)
FI (1件)：
G06T 7/60 200 H
引用特許：
審査官引用 (4件)
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