特許
J-GLOBAL ID:201703002152055154
X線分光偏光計
発明者:
,
出願人/特許権者:
,
代理人 (3件):
杉村 憲司
, 鈴木 治
, 伊藤 怜愛
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-048851
公開番号(公開出願番号):特開2017-161480
出願日: 2016年03月11日
公開日(公表日): 2017年09月14日
要約:
【課題】X線の分光及び偏光を一度に観測可能なX線分光偏光計を提供する。【解決手段】本発明のX線分光偏光計1は、表面が凹状の反射面210をなす湾曲結晶21を有する反射鏡2と、反射面に対向して配置され、X線を検出するように構成された、検出器3と、検出器による検出結果に基づき、X線の分光情報及び偏光情報を出力する、出力手段4と、を備え、反射面の形状は、回転面形状に沿っており、この回転面形状は、反射鏡に対して検出器側にある軸線を含む仮想平面内において軸線方向の一方側から他方側に向かうにつれて徐々に軸線に近づくように湾曲した曲線を、軸線を中心として回転させてなるものであり、検出器は、反射面に軸線方向に入射して反射面により反射されるX線が、デフォーカス状態で検出器に入射する位置に、配置されている。【選択図】図1
請求項(抜粋):
X線分光偏光計であって、
表面が凹状の反射面をなす湾曲結晶を有する反射鏡と、
前記反射面に対向して配置され、X線を検出するように構成された、検出器と、
前記検出器による検出結果に基づき、前記X線の分光情報及び偏光情報を出力する、出力手段と、
を備え、
前記反射面の形状は、回転面形状に沿っており、
前記回転面形状は、前記反射鏡に対して前記検出器側にある軸線を含む仮想平面内において軸線方向の一方側から他方側に向かうにつれて徐々に前記軸線に近づくように湾曲した曲線を、前記軸線を中心として回転させてなる形状であり、
前記検出器は、前記反射面に前記軸線方向に入射して前記反射面により反射されるX線が、デフォーカス状態で前記検出器に入射する位置に、配置されている、X線分光偏光計。
IPC (3件):
G21K 1/06
, G01T 7/00
, G01T 1/36
FI (5件):
G21K1/06 M
, G21K1/06 B
, G01T7/00 A
, G01T1/36 D
, G21K1/06 C
Fターム (2件):
前のページに戻る