特許
J-GLOBAL ID:201703002164586635

電子透かし検出方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 岡田 賢治 ,  今下 勝博
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-176367
公開番号(公開出願番号):特開2015-046738
特許番号:特許第6172745号
出願日: 2013年08月28日
公開日(公表日): 2015年03月12日
請求項(抜粋):
【請求項1】 画像全体を解析することによって電子透かし技術を用いて画像に埋め込まれている情報を読み出し、電子透かし技術を用いて前記画像に埋め込まれている前記画像の分割パターンを取得する分割パターン取得手順と、 取得した分割パターンを用いて前記画像を複数の領域に分割し、前記領域に電子透かし技術を用いて埋め込まれた情報を前記分割パターン取得手順とは異なる解析処理を用いて読み出す個別解読手順と、 を順に有する電子透かし検出方法。
IPC (2件):
H04N 1/387 ( 200 6.01) ,  G06T 1/00 ( 200 6.01)
FI (2件):
H04N 1/387 ,  G06T 1/00 500 B
引用特許:
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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