特許
J-GLOBAL ID：200903033272581453
電子透かし埋め込み方法、電子透かし埋め込み装置、電子透かし抽出装置、電子透かし埋め込み抽出装置、電子透かし埋め込みプログラム、及び、情報記憶媒体
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
伊東 忠彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-068080
公開番号（公開出願番号）：特開2007-251268
出願日： 2006年03月13日
公開日（公表日）： 2007年09月27日
要約：
【課題】電子透かし埋め込み媒体の品質を維持しつつ、埋め込まれた電子透かし情報が、同期誤りに対して耐性を有する電子透かし埋め込み方法を提供すること。【解決手段】電子透かし埋め込み媒体上の埋め込み位置の座標に基づき、電子透かし情報からデータを取得する座標データ取得ステップと、データの埋め込みに対応する電子透かし埋め込み媒体の劣化を評価する媒体劣化評価ステップと、評価した結果が所定の値より小さい場合に、取得されたデータを、電子透かし埋め込み媒体に埋め込む情報埋め込みステップとを有する電子透かし埋め込み方法において、電子透かし情報を構成する総ての前記データが、電子透かし埋め込み媒体に所定の回数以上埋め込まれる確率を計算し、埋め込まれた前記データに係る評価を行う埋め込み評価ステップを有する電子透かし埋め込み方法。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
G個のデータからなる電子透かし情報を電子透かし埋め込み媒体に埋め込む電子透かし
埋め込み方法において、
前記電子透かし埋め込み媒体上の埋め込み位置の座標に基づき、前記データを取得する座標データ取得ステップと、
前記埋め込み位置における、前記データの埋め込みに対応する前記電子透かし埋め込み媒体の劣化を評価する媒体劣化評価ステップと、
前記媒体劣化評価ステップにおいて評価した結果が所定の値より小さい場合に、前記座標データ取得ステップにおいて取得された前記データを、前記電子透かし埋め込み媒体の前記埋め込み位置に埋め込む情報埋め込みステップとを有する電子透かし埋め込み方法において、
前記電子透かし情報を構成する総ての前記データが、前記電子透かし埋め込み媒体に所定の回数以上埋め込まれる確率を、次に示す式(1)によって計算し、埋め込まれた前記データに係る評価を行う埋め込み評価ステップを有することを特徴とする電子透かし埋め込み方法。
P(G,D,m,n)=F(G,D,m,n)/G・DCm・・・(1)
但し、
P(G,D,m,n)は、前記電子透かし情報を構成する総ての前記データが、前記電子透かし埋め込み媒体に所定の回数であるn回以上埋め込まれる確率、
F(G,D,m,n)は、総ての前記データが所定の回数であるn回以上埋め込まれる組み合わせの数、
であり、
Gは、前記電子透かし情報を構成するデータの数、
Dは、一のデータが埋め込まれることのできる回数の最大値、
mは、前記情報埋め込みステップにおいて、各データが埋め込まれる回数の総和、
nは、所定の回数、
G・DCmは、GとDの積、及び、mの二項係数
である。
IPC (3件)：
H04N 1/387
, G06T 1/00
, H04N 7/26
H04N1/387
, G06T1/00 500B
, H04N7/13 Z
5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057CB12
, 5B057CB16
, 5B057CC02
, 5B057CE08
, 5C059KK01
, 5C059KK43
, 5C059PP01
, 5C059RB06
, 5C059RC35
, 5C059RF05
, 5C076AA14
, 5C076BA06
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (3件)
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