特許
J-GLOBAL ID：201703002819900320
レーザ加工開始条件を学習する機械学習装置、レーザ装置および機械学習方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (6件)：
青木 篤
, 島田 哲郎
, 三橋 真二
, 廣瀬 繁樹
, 前島 一夫
, 田原 正宏
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-014430
公開番号（公開出願番号）：特開2017-131937
出願日： 2016年01月28日
公開日（公表日）： 2017年08月03日
要約：
【課題】最短時間で加工を開始するのに最適なレーザ光出力条件を学習する。【解決手段】機械学習装置は、反射光量を測定するための反射光検出部の出力データを含む前記レーザ装置の状態量を観測する状態量観測部と、レーザ発振器から出力されたレーザ光による加工開始の成否の結果を取得する動作結果取得部と、状態量観測部および動作結果取得部からの出力を受取り、光出力指令データを、レーザ装置の状態量および加工開始の成否の結果に関連付けて学習する学習部と、学習部が学習した光出力指令データを参照して、光出力指令データを決定する意思決定部とを含む。反射光量が第1所定レベルより高く設定された第2所定レベルを上回らない条件を充たしながら、所定時間内に、加工対象物に対して前記加工を開始するための光出力指令データを学習する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
加工対象物に対してレーザ光を照射して切断や溶接等の加工を行う少なくとも一つのレーザ発振器(3)と前記レーザ発振器に電力を供給する少なくとも一つ以上のレーザ電源部(4)を備えるレーザ装置(1)の、加工開始時の前記レーザ電源部に指令する光出力指令を含む光出力指令データを学習する機械学習装置(8)であって、
前記レーザ発振器からレーザ光学系(5)を経由して出力された前記レーザ光の光量である出力光量を測定するための出力光検出部(6)の出力データと前記レーザ光が前記加工対象物の表面で反射して前記レーザ発振器および/またはレーザ光学系に再入射した反射光の光量である反射光量を測定するための反射光検出部(7)の出力データを含む前記レーザ装置の状態量を観測する状態量観測部(9)と、
前記光出力指令データに基づいて前記レーザ発振器から出力されたレーザ光による加工開始の成否の結果を取得する動作結果取得部(10)と、
前記状態量観測部からの出力および前記動作結果取得部からの出力を受取り、前記レーザ電源部に指令する光出力指令を含む前記光出力指令データを、前記レーザ装置の状態量および前記加工開始の成否の結果に関連付けて学習する学習部(11)と、
前記学習部が学習した前記光出力指令データを参照して、前記レーザ電源部に指令する光出力指令を含む光出力指令データを決定する意思決定部(12)とを備え、
前記反射光量が第1所定レベルより高く設定された第2所定レベルを上回らない条件を充たしながら、所定時間内に、前記加工対象物に対して前記加工を開始するための光出力指令データを学習することを特徴とする機械学習装置。
IPC (3件)：
B23K 26/00
, H01S 3/00
, G06N 99/00
B23K26/00 N
, B23K26/00 P
, H01S3/00 B
, H01S3/00 G
, G06N99/00 153
4E168AD07
, 4E168BA00
, 4E168CA02
, 4E168CA03
, 4E168CA05
, 4E168CA07
, 4E168CB11
, 4E168CB22
, 4E168DA13
, 4E168DA26
, 4E168DA28
, 4E168DA40
, 4E168DA42
, 4E168DA43
, 4E168EA08
, 4E168EA17
, 4E168KA07
, 4E168KA15
, 4E168KA17
, 5F172AM08
, 5F172EE13
, 5F172NN23
, 5F172NP01
, 5F172NP03
, 5F172NP16
, 5F172NQ06
, 5F172NQ30
, 5F172ZZ01
出願人引用 (1件)
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レーザ加工機
公報種別：公開公報
出願番号：特願2002-182119
出願人：ファナック株式会社
審査官引用 (1件)
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レーザ加工機
公報種別：公開公報
出願番号：特願2002-182119
出願人：ファナック株式会社
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