特許
J-GLOBAL ID:201703003093172474

接触子、測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 高田 守 ,  高橋 英樹 ,  久野 淑己
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-179331
公開番号(公開出願番号):特開2015-049076
特許番号:特許第6044489号
出願日: 2013年08月30日
公開日(公表日): 2015年03月16日
請求項(抜粋):
【請求項1】 前面、後面、第1側面、及び第2側面を有する先細形状の金属で形成されたコンタクト部と、 被測定物の端子に刺された前記コンタクト部を、前記端子の表面と平行、かつ前記第1側面の先端部分を前記端子に押し当てる方向にワイピングさせるワイピング機構と、 前記先端部分を除く前記第1側面、前記前面、前記後面、及び前記第2側面を覆う絶縁コーティングと、を備えたことを特徴とする接触子。
IPC (2件):
G01R 1/067 ( 200 6.01) ,  H01R 13/05 ( 200 6.01)
FI (3件):
G01R 1/067 A ,  G01R 1/067 H ,  H01R 13/05 A
引用特許:
出願人引用 (7件)
全件表示

前のページに戻る