特許
J-GLOBAL ID:201703004145111300
結晶材料、結晶製造方法、放射線検出器、非破壊検査装置および撮像装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
特許業務法人酒井国際特許事務所
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2017-013345
公開番号(公開出願番号):特開2017-132689
出願日: 2017年01月27日
公開日(公表日): 2017年08月03日
要約:
【課題】高発光量、かつ短蛍光寿命の結晶材料を提供する。【解決手段】一般式:(TxCs1-x)2±α(REyMzHf1-y-z)1±βX6±γ で表される結晶材料。TはTl、In、Na、Cu、Rb、Li、B、及び、Agから選択される少なくとも1種以上を含み、0≦x≦0.3であり、REはCe、Pr、Eu、Tb、及びNdから選択される少なくとも1種以上を含み、0≦y≦0.3であり、MはTi、Zr、Al、Ga、In、Sc、Y、La、Gd、Lu、Mg、Ca、Sr、Ba、Li、Na、K、Rb、及び、Taから選択される少なくとも1種以上を含み、0≦z≦0.3であり、XはCl、Br、Iから選択される少なくとも1種以上を含む。またx=y=z=0のときα×γ≠0もしくはβ×γ≠0であり、また0≦|α|<0.3、且つ、0≦|β|<0.3、且つ、0≦|γ|<0.5で表される。【選択図】図9
請求項(抜粋):
一般式(1):
(TxCs1-x)2±α(REyMzHf1-y-z)1±βX6±γ (1)
で表されることを特徴とする結晶材料。
ここで、式(1)中、TはTl、In、Na、Cu、Rb、Li、B、及び、Agから選択される少なくとも1種以上を含み、0≦x≦0.3であり、REはCe、Pr、Eu、Tb、及びNdから選択される少なくとも1種以上を含み、0≦y≦0.3であり、MはTi、Zr、Al、Ga、In、Sc、Y、La、Gd、Lu、Mg、Ca、Sr、Ba、Li、Na、K、Rb、及び、Taから選択される少なくとも1種以上を含み、0≦z≦0.3であり、XはCl、Br、Iから選択される少なくとも1種以上を含む。またx=y=z=0のときα×γ≠0もしくはβ×γ≠0であり、また0≦|α|<0.3、且つ、0≦|β|<0.3、且つ、0≦|γ|<0.5で表される。
IPC (7件):
C30B 29/12
, C09K 11/67
, C09K 11/00
, C09K 11/85
, C30B 11/02
, G01T 1/202
, G01T 1/20
FI (8件):
C30B29/12
, C09K11/67
, C09K11/00 E
, C09K11/85
, C30B11/02
, G01T1/202
, G01T1/20 G
, G01T1/20 E
Fターム (51件):
2G188AA02
, 2G188AA08
, 2G188AA25
, 2G188BB02
, 2G188BB04
, 2G188BB06
, 2G188BB07
, 2G188BB09
, 2G188CC09
, 2G188CC13
, 2G188CC14
, 2G188CC16
, 2G188CC21
, 2G188CC22
, 2G188CC23
, 2G188DD05
, 4G077AA02
, 4G077AB08
, 4G077BE03
, 4G077BE04
, 4G077CD02
, 4G077EC07
, 4G077HA02
, 4G077MB04
, 4H001CA04
, 4H001XA03
, 4H001XA11
, 4H001XA12
, 4H001XA13
, 4H001XA17
, 4H001XA19
, 4H001XA20
, 4H001XA22
, 4H001XA31
, 4H001XA35
, 4H001XA37
, 4H001XA38
, 4H001XA47
, 4H001XA55
, 4H001XA56
, 4H001XA57
, 4H001XA58
, 4H001XA59
, 4H001XA60
, 4H001XA63
, 4H001XA64
, 4H001XA65
, 4H001XA71
, 4H001XA72
, 4H001XA73
, 4H001XA81
引用文献:
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