特許
J-GLOBAL ID:201703004145111300

結晶材料、結晶製造方法、放射線検出器、非破壊検査装置および撮像装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 特許業務法人酒井国際特許事務所
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2017-013345
公開番号(公開出願番号):特開2017-132689
出願日: 2017年01月27日
公開日(公表日): 2017年08月03日
要約:
【課題】高発光量、かつ短蛍光寿命の結晶材料を提供する。【解決手段】一般式:(TxCs1-x)2±α(REyMzHf1-y-z)1±βX6±γ で表される結晶材料。TはTl、In、Na、Cu、Rb、Li、B、及び、Agから選択される少なくとも1種以上を含み、0≦x≦0.3であり、REはCe、Pr、Eu、Tb、及びNdから選択される少なくとも1種以上を含み、0≦y≦0.3であり、MはTi、Zr、Al、Ga、In、Sc、Y、La、Gd、Lu、Mg、Ca、Sr、Ba、Li、Na、K、Rb、及び、Taから選択される少なくとも1種以上を含み、0≦z≦0.3であり、XはCl、Br、Iから選択される少なくとも1種以上を含む。またx=y=z=0のときα×γ≠0もしくはβ×γ≠0であり、また0≦|α|<0.3、且つ、0≦|β|<0.3、且つ、0≦|γ|<0.5で表される。【選択図】図9
請求項(抜粋):
一般式(1): (TxCs1-x)2±α(REyMzHf1-y-z)1±βX6±γ (1) で表されることを特徴とする結晶材料。 ここで、式(1)中、TはTl、In、Na、Cu、Rb、Li、B、及び、Agから選択される少なくとも1種以上を含み、0≦x≦0.3であり、REはCe、Pr、Eu、Tb、及びNdから選択される少なくとも1種以上を含み、0≦y≦0.3であり、MはTi、Zr、Al、Ga、In、Sc、Y、La、Gd、Lu、Mg、Ca、Sr、Ba、Li、Na、K、Rb、及び、Taから選択される少なくとも1種以上を含み、0≦z≦0.3であり、XはCl、Br、Iから選択される少なくとも1種以上を含む。またx=y=z=0のときα×γ≠0もしくはβ×γ≠0であり、また0≦|α|<0.3、且つ、0≦|β|<0.3、且つ、0≦|γ|<0.5で表される。
IPC (7件):
C30B 29/12 ,  C09K 11/67 ,  C09K 11/00 ,  C09K 11/85 ,  C30B 11/02 ,  G01T 1/202 ,  G01T 1/20
FI (8件):
C30B29/12 ,  C09K11/67 ,  C09K11/00 E ,  C09K11/85 ,  C30B11/02 ,  G01T1/202 ,  G01T1/20 G ,  G01T1/20 E
Fターム (51件):
2G188AA02 ,  2G188AA08 ,  2G188AA25 ,  2G188BB02 ,  2G188BB04 ,  2G188BB06 ,  2G188BB07 ,  2G188BB09 ,  2G188CC09 ,  2G188CC13 ,  2G188CC14 ,  2G188CC16 ,  2G188CC21 ,  2G188CC22 ,  2G188CC23 ,  2G188DD05 ,  4G077AA02 ,  4G077AB08 ,  4G077BE03 ,  4G077BE04 ,  4G077CD02 ,  4G077EC07 ,  4G077HA02 ,  4G077MB04 ,  4H001CA04 ,  4H001XA03 ,  4H001XA11 ,  4H001XA12 ,  4H001XA13 ,  4H001XA17 ,  4H001XA19 ,  4H001XA20 ,  4H001XA22 ,  4H001XA31 ,  4H001XA35 ,  4H001XA37 ,  4H001XA38 ,  4H001XA47 ,  4H001XA55 ,  4H001XA56 ,  4H001XA57 ,  4H001XA58 ,  4H001XA59 ,  4H001XA60 ,  4H001XA63 ,  4H001XA64 ,  4H001XA65 ,  4H001XA71 ,  4H001XA72 ,  4H001XA73 ,  4H001XA81
引用文献:
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