特許
J-GLOBAL ID：201703004178192403
検査方法及び検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
鎌田 徹
, 津田 拓真
, 伊藤 健太郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-030304
公開番号（公開出願番号）：特開2017-146280
出願日： 2016年02月19日
公開日（公表日）： 2017年08月24日
要約：
【課題】より精度良く検査対象を検査することの可能な検査方法を提供することにある。【解決手段】この検査方法は、配線抵抗検出ステップと、異常検出ステップとを備える。配線抵抗検出ステップでは、電源装置100の配線101,102に設けられるチャック部101a,102aと検査対象20の電源端子21a,21bとの接触部分の抵抗値である接触抵抗値、及び配線そのものの抵抗値を含む配線抵抗値を検出する。異常検出ステップでは、配線抵抗値が所定の抵抗閾値以上であるか否かに基づいて異常を検出する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
電源装置(100)の配線(101,102)に設けられるチャック部(101a,102a)と検査対象(20)の電源端子(21a,21b)との接触部分の抵抗値である接触抵抗値、及び前記配線そのものの抵抗値を含む配線抵抗値を検出する配線抵抗検出ステップと、
前記配線抵抗値が所定の抵抗閾値以上であるか否かに基づいて異常を検出する異常検出ステップと、
を備える検査方法。
IPC (3件)：
G01R 31/04
, G01R 31/34
, H02P 29/00
G01R31/04
, G01R31/34 A
, H02P7/00 P
2G014AA14
, 2G014AB07
, 2G014AB29
, 2G014AB60
, 2G014AC08
, 2G116BA03
, 2G116BA04
, 2G116BB02
, 2G116BC04
, 2G116BD02
, 5H501BB09
, 5H501CC01
, 5H501DD10
, 5H501GG05
, 5H501HA09
, 5H501HB07
, 5H501JJ16
, 5H501LL22
, 5H501LL35
, 5H501LL60
