特許

J-GLOBAL ID：200903057869144344

回路試験装置及びその運用方法

発明者： 高田 智 ,  浜頭 重通 ,  原 理
出願人/特許権者： 株式会社デンソー
代理人 (1件)： 大川 宏
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-143562
公開番号（公開出願番号）：特開2008-298524
出願日： 2007年05月30日
公開日（公表日）： 2008年12月11日
要約：

【課題】有接点開閉手段を通じての被試験回路の低回路インピーダンスを測定する際の測定精度を向上すること。【解決手段】被試験回路1と低電圧検査回路4との間に低電圧試験時に閉じる有接点開閉手段と、有接点開閉手段の接点酸化膜を破壊するにの十分なレベルの予備電圧を印加する接点リフレッシュ用通電回路10とを設け、有接点開閉手段としてのリレー3を通じての被試験回路1の抵抗rを測定する直前にリレー3の接点表面の絶縁膜を破壊するために、リレー3の接点間に予備電圧を印加する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

接点表面の絶縁皮膜の破壊を十分に行えないレベルの低試験電圧を被試験回路に印加して前記被試験回路の電気特性を検査する試験である低電圧試験を行う低電圧検査回路と、 前記被試験回路と前記低電圧検査回路との間に設けられて前記低電圧試験時に閉じる有接点開閉手段と、 前記有接点開閉手段の接点酸化膜を破壊するのに十分なレベルの予備電圧を前記低電圧試験の前に前記有接点開閉手段に印加する接点リフレッシュ用通電回路と、 を有することを特徴とする回路試験装置。

IPC (1件)：

G01R 27/02

FI (1件)：

G01R27/02 R

Fターム (14件)：

2G016BA03 ,  2G016BB03 ,  2G016BB11 ,  2G016BC02 ,  2G016BC06 ,  2G016BD06 ,  2G016BD08 ,  2G016BD13 ,  2G016BD16 ,  2G028AA01 ,  2G028BE02 ,  2G028BE06 ,  2G028CG02 ,  2G028CG03

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 電気接点の劣化診断方法および装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-073552   出願人：株式会社東芝

審査官引用 (3件)

• 絶縁抵抗・低抵抗検査機
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-330808   出願人：株式会社東芝
• スイッチの接点腐食防止装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-150927   出願人：富士通テン株式会社
• 特開昭59-058916