特許
J-GLOBAL ID:201703005309946510
部品検査装置及び部品実装装置
発明者:
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出願人/特許権者:
,
代理人 (4件):
青木 宏義
, 天田 昌行
, 岡田 喜雅
, 北川 雅章
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-036211
公開番号(公開出願番号):特開2017-152651
出願日: 2016年02月26日
公開日(公表日): 2017年08月31日
要約:
【課題】基板に挿入実装される部品の位置や向きを検査できるようにすること。【解決手段】検査装置(30)は、スルーホール(H)が形成された基板(B)と、スルーホールに端子(L)を挿入して実装される部品(P)との相対位置を検査する。検査装置は、基板に挿入実装された部品の表面にパターン(PT)を照射するパターン照射手段(34)と、部品に照射されたパターンを撮像する第1撮像手段(31)と、第1撮像手段で撮像したパターンの画像データに基づき、挿入実装された部品と基板との相対位置の良否判定をする判定部(45)とを備えている。【選択図】図1
請求項(抜粋):
スルーホールが形成された基板と、該スルーホールに端子を挿入して実装される部品との相対位置を検査する部品検査装置であって、
前記基板に挿入実装された前記部品の表面にパターンを照射するパターン照射手段と、
前記部品に照射された前記パターンを撮像する撮像手段と、
前記撮像手段で撮像した前記パターンの画像データに基づき、挿入実装された前記部品と前記基板との相対位置の良否判定をする判定部とを備えていることを特徴とする部品検査装置。
IPC (5件):
H05K 13/00
, H05K 13/04
, H05K 3/34
, H05K 13/08
, G01B 11/25
FI (5件):
H05K13/00 D
, H05K13/04 C
, H05K3/34 512B
, H05K13/08 Q
, G01B11/25 H
Fターム (57件):
2F065AA04
, 2F065AA35
, 2F065AA37
, 2F065AA61
, 2F065CC01
, 2F065CC28
, 2F065FF02
, 2F065HH06
, 2F065JJ03
, 2F065JJ26
, 2F065PP25
, 2F065QQ21
, 2F065QQ25
, 2F065QQ28
, 2F065QQ31
, 2F065QQ39
, 2F065RR08
, 3C707AS08
, 3C707AS14
, 3C707BS10
, 3C707DS01
, 3C707ES03
, 3C707KT01
, 3C707KT05
, 3C707KT11
, 3C707LV02
, 3C707NS17
, 5E319AA02
, 5E319AB01
, 5E319AC01
, 5E319CC22
, 5E319CD04
, 5E319CD53
, 5E319GG09
, 5E353BB05
, 5E353BB06
, 5E353CC01
, 5E353CC04
, 5E353CC13
, 5E353EE02
, 5E353EE23
, 5E353EE62
, 5E353EE63
, 5E353JJ02
, 5E353JJ25
, 5E353JJ50
, 5E353KK02
, 5E353KK03
, 5E353KK11
, 5E353KK21
, 5E353LL03
, 5E353LL06
, 5E353MM01
, 5E353MM08
, 5E353NN14
, 5E353QQ11
, 5E353QQ12
引用特許:
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