特許
J-GLOBAL ID：201703008346538863

複合材料の損傷評価方法と装置

発明者：
川▲崎▼ 拓

川▲崎▼ 拓 について

, 
滝沢 真実

滝沢 真実 について

, 
大森 征一

大森 征一 について

, 
佐々木 孝明

佐々木 孝明 について

, 
荒川 敬弘

荒川 敬弘 について


出願人/特許権者：
株式会社IHI検査計測

株式会社IHI検査計測 について


代理人 (2件)： 堀田 実 ,  野村 俊博
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-052030
公開番号（公開出願番号）：特開2017-166953
出願日： 2016年03月16日
公開日（公表日）： 2017年09月21日
要約：
【課題】同一条件で多数のデータを繰り返し取得することができ、かつ周波数変化点を容易に見つけることができ、これにより試験片の損傷状態を的確に評価することができる複合材料の損傷評価方法と装置を提供する。【解決手段】超音波発振源と超音波受信センサを複合材料からなる試験片に間隔を隔てて取り付け(S1)、引張荷重を順に増加させて、試験片に応力負荷と応力除荷を繰り返す(S2)。応力負荷時に、超音波発振源から疑似AE信号を発信し、試験片を伝搬した疑似AE信号を、超音波受信センサにより受信する(S3)。受信信号を周波数解析(S4)して、低周波域の時間波形の振幅値を取得し、振幅値の変化から、試験片の損傷の有無を評価する(S5)。【選択図】図4
請求項（抜粋）：
(A)超音波発振源と超音波受信センサを複合材料からなる試験片に間隔を隔てて取り付け、 (B)引張荷重を順に増加させて、前記試験片に応力負荷と応力除荷を繰り返し、 (C)応力負荷時に、前記超音波発振源から疑似AE信号を発信し、前記試験片を伝搬した前記疑似AE信号を、前記超音波受信センサにより受信し、 (D)受信信号を周波数解析して、低周波域の時間波形の振幅値を取得し、 (E)前記振幅値の変化から、前記試験片の損傷の有無を評価する、複合材料の損傷評価方法。
IPC (1件)：
G01N 3/32
FI (1件)：
G01N3/32 H
Fターム (7件)：
2G061AA01 ,  2G061AB07 ,  2G061BA15 ,  2G061CA15 ,  2G061EA07 ,  2G061EA08 ,  2G061EC02
引用特許：
出願人引用 (4件)
全件表示
審査官引用 (4件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM