特許
J-GLOBAL ID:201703008684762116

細孔径評価装置および細孔径評価方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 河崎 眞一 ,  津村 祐子
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2015-169366
公開番号(公開出願番号):特開2017-044654
出願日: 2015年08月28日
公開日(公表日): 2017年03月02日
要約:
【課題】多孔質材料の細孔径評価に要する手間と時間を削減する。【解決手段】第1表面および第2表面を有し、第1表面と第2表面とを連通させる細孔を有する多孔質な被検体を保持するホルダと、第1表面で細孔と連通するとともに、ガス供給口およびガス排出口を具備する第1チャンバと、ガス供給口に混合ガスのサンプルを供給するガス供給部と、第2表面で細孔と連通するとともに、細孔を通過して混合ガスから分離された透過ガスが導入される第2チャンバと、第2チャンバから第1経路を介して導入される透過ガスの組成を測定する測定部と、を具備する、細孔径評価装置。【選択図】図2
請求項(抜粋):
第1表面および第2表面を有し、前記第1表面と前記第2表面とを連通させる細孔を有する多孔質な被検体を保持するホルダと、 前記第1表面で前記細孔と連通するとともに、ガス供給口およびガス排出口を具備する第1チャンバと、 前記ガス供給口に混合ガスのサンプルを供給するガス供給部と、 前記第2表面で前記細孔と連通するとともに、前記細孔を通過して前記混合ガスから分離された透過ガスが導入される第2チャンバと、 前記第2チャンバから第1経路を介して導入される前記透過ガスの組成を測定する測定部と、を具備する、細孔径評価装置。
IPC (2件):
G01N 15/08 ,  B01D 65/10
FI (3件):
G01N15/08 H ,  B01D65/10 ,  G01N15/08 D
Fターム (11件):
4D006GA01 ,  4D006GA41 ,  4D006GA44 ,  4D006LA06 ,  4D006MA02 ,  4D006MA03 ,  4D006MA09 ,  4D006MA21 ,  4D006MB03 ,  4D006MC03X ,  4D006NA31
引用特許:
審査官引用 (3件)
  • 透過細孔を識別する方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2006-348675   出願人:独立行政法人産業技術総合研究所
  • 細孔径分布測定装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2000-048723   出願人:西華産業株式会社
  • 特開昭60-106517

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