特許
J-GLOBAL ID：201703009991811015

架橋密度の測定方法

発明者：
金子 房恵

金子 房恵 について

, 
岸本 浩通

岸本 浩通 について


出願人/特許権者：
住友ゴム工業株式会社

住友ゴム工業株式会社 について


代理人 (1件)： 特許業務法人 安富国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-115437
公開番号（公開出願番号）：特開2017-219476
出願日： 2016年06月09日
公開日（公表日）： 2017年12月14日
要約：
【課題】硫黄架橋の不均一性の影響を受けずに、精密な硫黄架橋構造の情報を高精度に得ることが可能な架橋密度の測定方法を提供する。【解決手段】硫黄含有高分子複合材料における架橋密度を測定する方法であって、硫黄含有高分子複合材料における架橋密度を測定する部位全体に、高輝度X線を照射し、X線のエネルギーを変えながらX線吸収スペクトルを測定する測定工程と、前記X線吸収スペクトルから硫黄の各結合数に対する架橋密度を算出する算出工程とを含む架橋密度の測定方法。【選択図】図4
請求項（抜粋）：
硫黄含有高分子複合材料における架橋密度を測定する方法であって、 硫黄含有高分子複合材料における架橋密度を測定する部位全体に、高輝度X線を照射し、X線のエネルギーを変えながらX線吸収スペクトルを測定する測定工程と、 前記X線吸収スペクトルから硫黄の各結合数に対する架橋密度を算出する算出工程とを含む架橋密度の測定方法。
IPC (3件)：
G01N 23/06 ,  C08L 21/00 ,  C08K 3/06
FI (3件)：
G01N23/06 310 ,  C08L21/00 ,  C08K3/06
Fターム (24件)：
2G001AA01 ,  2G001BA13 ,  2G001CA01 ,  2G001EA01 ,  2G001GA01 ,  2G001KA12 ,  2G001LA05 ,  2G001NA03 ,  2G001NA08 ,  2G001NA19 ,  4J002AC001 ,  4J002AC011 ,  4J002AC031 ,  4J002AC061 ,  4J002AC071 ,  4J002AC081 ,  4J002AC091 ,  4J002BB181 ,  4J002DA046 ,  4J002FD010 ,  4J002FD140 ,  4J002FD146 ,  4J002FD150 ,  4J002GN01
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (2件)

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