特許

J-GLOBAL ID：201703011252256121

分類分析方法、分類分析装置および分類分析用記憶媒体

発明者： 鷲尾 隆 ,  川合 知二 ,  谷口 正輝 ,  筒井 真楠 ,  横田 一道 ,  吉田 剛
出願人/特許権者： 国立大学法人大阪大学
代理人 (1件)： 三木 久巳
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-244326
公開番号（公開出願番号）：特開2017-120257
出願日： 2016年12月16日
公開日（公表日）： 2017年07月06日
要約：

【課題】粒子状または分子状の分析物の分類分析を高精度に行うことのできる分類分析方法、分類分析装置および分類分析用記憶媒体を提供する。【解決手段】検体の粒子の貫通孔の通過に応じて、ナノポアデバイスによって検出した粒子通過検出信号のデータ群をベースにして、所定の分析物の通過に対応するパルス状信号の波形形態の特徴を示す特徴量をあらかじめ求め、あらかじめ求めた特徴量を機械学習のための学習データとし、被分析データのパルス状信号から得られる特徴量を変数にして、機械学習による分類分析プログラムを実行することによって、被分析データにおける所定の分析物に関する分類分析を行う。【選択図】図54

請求項（抜粋）：

貫通孔を形成した隔壁と、前記貫通孔を介して前記隔壁の表裏側に配置された電極とを配置し、 粒子状または分子状の分析物を含む流動性物質を前記隔壁の一面側に供給し、 前記分析物が前記貫通孔を通過することにより生ずる電極間の通電変化を検出した検出信号のデータの分類分析をコンピュータ制御プログラムの実行によって行う分類分析方法であって、 前記コンピュータ制御プログラムは、機械学習を用いた分類分析を行う分類分析プログラムを有し、 所定の分析物を含む流動性物質から前記検出信号として得られた分析物通過に対応するパルス状信号の波形形態の特徴を示す特徴量をあらかじめ求め、 あらかじめ求めた特徴量を前記機械学習のための学習データとし、被分析データのパルス状信号から得られる特徴量を変数にして、前記分類分析プログラムを実行することによって、該被分析データにおける前記所定の分析物に関する分類分析を行うことを特徴とする分類分析方法。

IPC (2件)：

G01N 15/14 ,  G01N 27/00

FI (2件)：

G01N15/14 K ,  G01N27/00 Z

Fターム (8件)：

2G060AA15 ,  2G060AA19 ,  2G060AD08 ,  2G060AF20 ,  2G060AG11 ,  2G060HC13 ,  2G060HC14 ,  2G060KA09