低コヒーレンス干渉分光法のためのスキャン装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：特許業務法人HARAKENZO WORLD PATENT & TRADEMARK
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-510831
特許番号：特許第6118796号
出願日： 2012年05月18日
請求項（抜粋）：

【請求項1】放射線ビームを受信する第1多重化ユニットであって、複数の第1光導波管のうち前記放射線ビームが航行する光学経路に基づいて、当該放射線ビームに群遅延を与える複数の第1光学素子を含む第1多重化ユニットと、前記第1多重化ユニットからの前記放射線ビームを受信する第2多重化ユニットであって、1つ又は複数の出力放射ビームを生成するために、複数の第2光導波管に前記放射線ビームを分配する複数の第2光学素子を含む第2多重化ユニットとを含み、前記複数の第2光導波管は、前記1つ又は複数の出力放射ビームをサンプルに導き、前記複数の第1光導波管および前記複数の第2光導波管は、同一の基板上に統合されていることを特徴とする低コヒーレンス干渉分光システム。

IPC (1件)：