特許
J-GLOBAL ID:201703011950587288

シワ状態分析方法及びシワ状態分析装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 速水 進治
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-198668
公開番号(公開出願番号):特開2015-062569
特許番号:特許第6185807号
出願日: 2013年09月25日
公開日(公表日): 2015年04月09日
請求項(抜粋):
【請求項1】 分析対象部位の肌輝度画像を取得する画像取得工程と、 前記画像取得工程で取得された前記肌輝度画像から、複数の所定角度の各々についての線状テクスチャ画像をそれぞれ抽出する線検出工程と、 前記線検出工程で抽出された前記各線状テクスチャ画像から、前記各所定角度の線形成分強度をそれぞれ抽出する強度抽出工程と、 前記強度抽出工程で抽出された前記各線形成分強度を用いて、前記分析対象部位の肌のシワ状態情報を生成する情報生成工程と、 を含み、 前記強度抽出工程は、前記各線状テクスチャ画像の濃度ヒストグラムの分散値又は標準偏差値を、前記各所定角度の前記線形成分強度としてそれぞれ算出するシワ状態分析方法。
IPC (2件):
A61B 5/107 ( 200 6.01) ,  A61B 5/103 ( 200 6.01)
FI (2件):
A61B 5/10 300 Q ,  A61B 5/10 ZDM
引用特許:
出願人引用 (2件) 審査官引用 (2件)

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