特許
J-GLOBAL ID:201703012288597835

自己抗体の検出方法、自己免疫疾患の罹患の可能性を試験する方法、自己抗体の検出試薬および自己免疫疾患用の試験試薬

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 辻丸 光一郎 ,  中山 ゆみ ,  伊佐治 創
公報種別:再公表公報
出願番号(国際出願番号):JP2014050796
公開番号(公開出願番号):WO2015-008498
出願日: 2014年01月17日
公開日(公表日): 2015年01月22日
要約:
自己免疫疾患の原因となる自己抗体を、優れた精度で検出できる自己抗体の検出方法を提供する。 本発明の自己抗体の検出方法は、主要組織適合遺伝子複合体(MHC)クラスII分子により提示された変性タンパク質を含む抗原試薬と、サンプルとを接触させる接触工程、および、前記サンプルにおける自己抗体と前記抗原試薬における前記変性タンパク質との複合体を検出する検出工程を含むことを特徴とする。そして、この検出方法により、被検体から単離した生体試料について、前記自己抗体と前記変性タンパク質との複合体を検出することで、その検出結果から、前記被検体について、自己免疫疾患の罹患可能性を試験することができる。
請求項(抜粋):
MHCクラスII分子により提示された変性タンパク質を含む抗原試薬と、サンプルとを接触させる接触工程、および、 前記サンプルにおける自己抗体と前記抗原試薬における前記変性タンパク質との複合体を検出する検出工程を含むことを特徴とする、自己抗体の検出方法。
IPC (2件):
G01N 33/564 ,  G01N 33/53
FI (2件):
G01N33/564 Z ,  G01N33/53 N
Fターム (5件):
4B024AA11 ,  4B024CA04 ,  4B024EA04 ,  4B024GA11 ,  4B024HA11

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