特許
J-GLOBAL ID：201703012641861134
タイヤ試験機
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人梶・須原特許事務所
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-043102
公開番号（公開出願番号）：特開2014-169971
特許番号：特許第6087172号
出願日： 2013年03月05日
公開日（公表日）： 2014年09月18日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 下フレームと、
前記下フレームに支持され、前記下フレームから鉛直方向上方に延在する一対の鉛直フレームと、
前記一対の鉛直フレームに架け渡された可動ビームと、
鉛直方向に沿った軸を中心として回転可能な第1スピンドルを有する第1チャックと、
前記可動ビームに取り付けられ、前記第1チャックと係合可能であり、鉛直方向に沿った軸を中心として前記第1スピンドルとともに回転可能な第2スピンドルを有する第2チャックと、
前記鉛直フレームに取り付けられ、駆動手段により回転させられることで前記可動ビームを上昇下降させるねじ軸と、
前記第1チャックと前記第2チャックとの間に挟持されたタイヤの内部空間にガスが供給された際に、前記可動ビームを固定するビーム固定手段と、
を備え、
前記ビーム固定手段は、
前記ねじ軸に固定され、複数の孔が設けられた円盤と、
静止物に固定され、前記孔に挿入されるピンを有する円盤固定手段と、
を有し、
前記複数の孔は、前記円盤の円周方向に延びる長孔とされており、
前記円盤に設けられた孔に前記ピンが挿入されることで、前記可動ビームを介して前記第2チャックが前記第1チャックに対して固定されることを特徴とする、タイヤ試験機。
IPC (2件)：
G01M 17/02 ( 200 6.01)
, B60C 19/00 ( 200 6.01)
G01M 17/02 B
, B60C 19/00 H
