特許
J-GLOBAL ID:201703012858102851

磁場計測装置及び磁場計測装置の校正方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 布施 行夫 ,  大渕 美千栄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-081355
公開番号(公開出願番号):特開2017-191039
出願日: 2016年04月14日
公開日(公表日): 2017年10月19日
要約:
【課題】磁気センサーの検出軸の方向を考慮して計測対象の磁場を精度良く計算することが可能な磁場計測装置を提供すること。【解決手段】複数の磁気センサーと、前記磁気センサーの検出ベクトルと前記磁気センサーの位置情報と前記磁気センサーの計測値とに基づいて磁場を推定し、推定した前記磁場に基づいて前記検出ベクトルを更新する校正部と、前記磁気センサーの計測値と前記校正部により更新された前記検出ベクトルとに基づいて、計測対象の磁場を計算する磁場計算部と、を含む、磁場計測装置。【選択図】図4
請求項(抜粋):
複数の磁気センサーと、 前記磁気センサーの検出ベクトルと前記磁気センサーの位置情報と前記磁気センサーの計測値とに基づいて磁場を推定し、推定した前記磁場に基づいて前記検出ベクトルを更新する校正部と、 前記磁気センサーの計測値と前記校正部により更新された前記検出ベクトルとに基づいて、計測対象の磁場を計算する磁場計算部と、を含む、磁場計測装置。
IPC (3件):
G01R 33/02 ,  G01R 35/00 ,  A61B 5/05
FI (4件):
G01R33/02 L ,  G01R35/00 M ,  G01R33/02 Z ,  A61B5/05 A
Fターム (14件):
2G017AA03 ,  2G017AC01 ,  2G017AD01 ,  2G017AD12 ,  2G017AD32 ,  2G017AD42 ,  2G017AD53 ,  2G017BA05 ,  2G017BA15 ,  2G017BA18 ,  4C127AA10 ,  4C127CC01 ,  4C127EE08 ,  4C127KK01
引用特許:
審査官引用 (6件)
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