流体解析装置、流体解析方法及び流体解析プログラム

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：特許業務法人後藤特許事務所 , 後藤政喜 , 飯田雅昭
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-012054
公開番号（公開出願番号）：特開2017-134479
出願日： 2016年01月26日
公開日（公表日）： 2017年08月03日
要約：

【課題】粒子径を所定値以上として計算負荷を抑えつつ、精度の高い解析を実現する。【解決手段】解析装置10は、粒子の径を所定値以上に設定し、構造物の解析モデルが、並列に設けられる複数の第1隙間を有し、かつ、少なくとも一つの第1隙間が解析で必要とされる数の粒子を通過させることができない場合に、複数の第1隙間を統合して一つ以上の第2隙間を有する修正解析モデルを生成し、修正解析モデルを用いて粒子法によって構造物内の流体の流れを解析する。解析モデルは、一つ以上の第2隙間の総断面積が複数の第1隙間の総断面積に等しくなるよう修正される。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

構造物内の流体の流れを粒子法によって解析する流体解析装置であって、粒子の径を所定値以上に設定する設定部と、前記構造物の解析モデルが、並列に設けられる複数の第1隙間を有し、かつ、少なくとも一つの第1隙間が解析で必要とされる数の粒子を通過させることができない場合に、前記複数の第1隙間を統合して一つ以上の第2隙間を有する修正解析モデルに前記解析モデルを修正する解析モデル修正部と、前記修正解析モデルを用いて粒子法によって前記構造物内の流体の流れを解析する解析部と、を有し、前記解析モデル修正部は、前記一つ以上の第2隙間の総断面積が前記複数の第1隙間の総断面積に等しくなるよう前記解析モデルを修正する、ことを特徴とする流体解析装置。

IPC (2件)：

G06F 19/00 , G06F 17/50

FI (2件)：

G06F19/00 110 , G06F17/50 612G

Fターム (3件)：

5B046JA09 , 5B046KA05 , 5L049DD02

引用特許：

審査官引用 (1件)

流動解析方法、流動解析装置、及び流動解析プログラム
公報種別：公開公報出願番号：特願2008-214260 出願人：株式会社東芝

引用文献：

審査官引用 (2件)

[構造計画研究所 *粒子法・粉体ニュースレター*]vol.7 何が出来るの粒子法? 〜ギアオイルかきあげ〜
解像度可変型MPS法

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