特許
J-GLOBAL ID：201703013584978760
タイヤの欠陥検出方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
住友 慎太郎
, 浦 重剛
, 苗村 潤
, 石原 幸信
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-102706
公開番号（公開出願番号）：特開2017-211208
出願日： 2016年05月23日
公開日（公表日）： 2017年11月30日
要約：
【課題】 コード露出やゴムゲージ不足の欠陥を精度よく検出する。【解決手段】 タイヤ表面を形成する外皮ゴムの内側にコード材が平行に配列されたタイヤについて、コード材がタイヤ表面に露出したコード露出又はコード材がタイヤ表面に著しく接近しているゴムゲージ不足の欠陥を検出するための方法である。コード材は、外皮ゴムとは異なる色を有し、かつ、予め定められた第1方向に沿ってのびている。このタイヤの欠陥検出方法は、前記タイヤ表面のイメージデータを取得する工程S1と、イメージデータを処理することにより、外皮ゴムとは異なる色を有する第1画素を抽出する工程S2と、第1画素が第1方向で連続又は接近する線状の第1領域の有無に基づいて、欠陥を判定する工程S3とを含んでいる。【選択図】図4
請求項（抜粋）：
タイヤ表面を形成する外皮ゴムの内側にコード材が平行に配列されたタイヤについて、前記コード材がタイヤ表面に露出したコード露出又は前記コード材がタイヤ表面に著しく接近しているゴムゲージ不足の欠陥を検出するための方法であって、
前記コード材は、前記外皮ゴムとは異なる色を有し、かつ、予め定められた第1方向に沿ってのびており、
前記方法は、
前記タイヤ表面のイメージデータを取得する工程と、
前記イメージデータを処理することにより、前記外皮ゴムとは異なる色を有する第1画素を抽出する工程と、
前記第1画素が前記第1方向で連続又は接近する線状の第1領域の有無に基づいて、前記欠陥を判定する工程とを含むタイヤの欠陥検出方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (19件)：
2G051AA90
, 2G051AB02
, 2G051AC12
, 2G051CA04
, 2G051CB01
, 2G051DA08
, 2G051EA17
, 2G051EB01
, 2G051ED09
, 4F212AH20
, 4F212AP11
, 4F212AQ01
, 4F212VA13
, 4F212VD03
, 4F212VD08
, 4F212VL25
, 4F212VQ06
, 4F212VQ07
, 4F212VQ08
