特許

J-GLOBAL ID：201703014278726281

電気光学装置、電子機器

発明者： 腰原 健
出願人/特許権者： セイコーエプソン株式会社
代理人 (3件)： 志賀 正武 ,  佐伯 義文 ,  大浪 一徳
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-025818
公開番号（公開出願番号）：特開2017-147037
出願日： 2016年02月15日
公開日（公表日）： 2017年08月24日
要約：

【課題】本発明は、検査後の検査端子に対して製造工程を追加することなく絶縁処理して製品の劣化を防ぐことのできる、電気光学装置、電子機器を提供する。【解決手段】本発明の電気光学装置は、複数の発光素子がマトリックス状に配列された表示領域と、前記表示領域の外側に複数の実装端子が配列された端子領域と、を含む素子基板を備え、前記素子基板は、前記複数の発光素子を駆動させるトランジスター回路と、前記トランジスター回路を検査する検査端子と、前記複数の発光素子を封止する封止膜と、を有し、前記検査端子の表面が前記封止膜で覆われている。【選択図】図4

請求項（抜粋）：

複数の発光素子がマトリックス状に配列された表示領域と、前記表示領域の外側に複数の実装端子が配列された端子領域と、を含む素子基板を備え、 前記素子基板は、 前記複数の発光素子を駆動させるトランジスター回路と、 前記トランジスター回路を検査する検査端子と、 前記複数の発光素子を封止する封止膜と、を有し、 前記検査端子の表面が前記封止膜で覆われている、電気光学装置。

IPC (4件)：

H05B 33/12 ,  H01L 51/50 ,  H05B 33/04 ,  H05B 33/06

FI (4件)：

H05B33/12 Z ,  H05B33/14 A ,  H05B33/04 ,  H05B33/06

Fターム (7件)：

3K107AA01 ,  3K107BB01 ,  3K107CC45 ,  3K107DD38 ,  3K107DD39 ,  3K107EE03 ,  3K107EE46

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 電気光学装置、電子機器
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2014-173624   出願人：セイコーエプソン株式会社
• 半導体装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-297774   出願人：松下電子工業株式会社
• 発光装置および電子機器
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2014-005827   出願人：セイコーエプソン株式会社
• 発光装置および電子機器
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2013-195080   出願人：セイコーエプソン株式会社