特許
J-GLOBAL ID:201703014572028452
自動分析装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (6件):
蔵田 昌俊
, 野河 信久
, 峰 隆司
, 河野 直樹
, 井上 正
, 鵜飼 健
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-098058
公開番号(公開出願番号):特開2017-207298
出願日: 2016年05月16日
公開日(公表日): 2017年11月24日
要約:
【課題】操作者の負担を軽減し、装置のスループットの低下を抑えることが可能な自動分析装置を提供する。【解決手段】分注プローブ、圧力検出器、及び分注制御部を具備する。分注プローブは、試料容器に収容される試料を、前記試料容器内における吸引標準位置で吸引する。圧力検出器は、前記分注プローブの圧力を検出する。分注制御部は、前記圧力検出器により検出される圧力に異常がある場合、前記試料容器から前記試料を吸引する位置を、前記吸引標準位置から吸引変更位置に変更する。【選択図】図9
請求項(抜粋):
試料容器に収容される試料を、前記試料容器内における吸引標準位置で吸引する分注プローブと、
前記分注プローブの圧力を検出する圧力検出器と、
前記圧力検出器により検出される圧力に異常がある場合、前記試料容器から前記試料を吸引する位置を、前記吸引標準位置から、前記試料容器内における吸引変更位置に変更する分注制御部と
を具備する自動分析装置。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (4件):
2G058GB03
, 2G058GB10
, 2G058GE03
, 2G058GE10
引用特許:
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