特許
J-GLOBAL ID：201703014911848510
測定機器システムの検査、対応する測定機器システム、および、検査システム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
アインゼル・フェリックス=ラインハルト
, 久野 琢也
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-019799
公開番号（公開出願番号）：特開2013-160767
特許番号：特許第6042220号
出願日： 2013年02月04日
公開日（公表日）： 2013年08月19日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 少なくとも1つの測定機器(2)を含む測定機器システム(1)の検査機器(6)を用いた検査方法であって、
前記測定機器(2)は、少なくとも1つの測定量の決定に基づき、取り出し位置(3)からタップ信号として取り出し得る少なくとも1つの出力信号を生成し、
前記検査機器(6)は、前記測定機器(2)が前記出力信号としてテスト信号を生成するように、該測定機器(2)に作用し、
制御要素(4)を介して、前記タップ信号が、予め設定された調整信号となるように、前記出力信号および/または該出力信号に依存する信号に影響を与える、検査方法において、
前記制御要素(4)は、電気抵抗特性を基本的な特徴とする部品であり、
前記測定機器(2)は、前記出力信号および/または該出力信号に依存する信号に影響を及ぼすため、前記制御要素(4)に印加される電圧を変化させる、
ことを特徴とする、測定機器システム(1)の検査方法。
IPC (2件)：
G01D 18/00 ( 200 6.01)
, G01F 1/00 ( 200 6.01)
