特許
J-GLOBAL ID：201703015473664386
温度測定装置、熱伝導率測定装置および熱伝導率測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
須田 篤
, 楠 修二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2015-103156
公開番号（公開出願番号）：特開2016-217885
出願日： 2015年05月20日
公開日（公表日）： 2016年12月22日
要約：
【課題】比較的簡単な構成で、様々な物体の表面温度をより高い精度および確度で測定することができる温度測定装置、熱伝導率測定装置および熱伝導率測定方法を提供する。【解決手段】温度測定用センサ11aが、被測定物1の表面に接触させて温度を測定可能に設けられている。保護熱源センサ11bが、温度測定用センサ11aとの間で熱を交換可能に、温度測定用センサ11aに近接または接触して設けられている。温度測定用センサ11aおよび保護熱源センサ11bは、温度に応じて電気抵抗が変化し、電気抵抗値に基づいて温度測定可能、かつ電気抵抗を変化させることにより対応する温度で発熱可能に構成された、同じサーミスタから成っている。制御手段13が、温度測定用センサ11aで温度を測定するとき、温度測定用センサ11aの電気抵抗と等しくなるよう、保護熱源センサ11bの電気抵抗を制御可能に設けられている。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
温度に応じて所定の物理量が変化し、前記物理量の値に基づいて温度測定可能、かつ前記物理量を変化させることにより対応する温度で発熱可能に構成された2つの同じ発熱温度センサと、
各発熱温度センサに接続された制御手段とを有し、
一方の発熱温度センサは、被測定物の表面に接触させて温度を測定可能に設けられ、
他方の発熱温度センサは、前記一方の発熱温度センサとの間で熱を交換可能に、前記一方の発熱温度センサに近接または接触して設けられ、
前記制御手段は、前記一方の発熱温度センサで温度を測定するとき、前記一方の発熱温度センサの前記物理量と等しくなるよう、前記他方の発熱温度センサの前記物理量を制御可能に設けられていることを
特徴とする温度測定装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (1件)：
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