特許
J-GLOBAL ID:201703016538716113

画像検査装置、画像検査システム及び画像検査方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 篁 悟
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-053987
公開番号(公開出願番号):特開2014-178622
特許番号:特許第6070310号
出願日: 2013年03月15日
公開日(公表日): 2014年09月25日
請求項(抜粋):
【請求項1】 紙面上に画像形成出力された画像を読み取った読取画像の検査を行う画像検査装置であって、 各画素が第一の階調数の画素値によって表現された多値画像を、前記第一の階調数よりも少ない第二の階調数によって各画素が表現された少値画像に変換する階調変換処理が行われて生成された画像である画像形成出力対象の画像に対して前記少値画像を前記多値画像に変換する逆階調変換処理を行い、前記逆階調変換処理された画像の情報に基づいて、前記読取画像の検査を行うための検査用画像を生成する検査用画像生成部と、 前記画像形成出力対象の画像の生成の際に行われた前記階調変換処理の種類を取得する種類取得部と、 前記階調変換処理の種類と前記逆階調変換処理の種類との組み合わせに応じて前記組み合わせごとに予め定められた前記読取画像の検査のための設定情報から、取得された前記階調変換処理の種類と前記逆階調変換処理の種類との組み合わせに対応する設定情報を取得する設定情報取得部と、 前記読取画像と前記検査用画像との差分に基づいて前記読取画像の欠陥を判定する検査を行う画像検査部と を含み、 前記画像検査部は、取得された前記設定情報に基づいて、前記読取画像を欠陥と判定するための基準を変更する ことを特徴とする画像検査装置。
IPC (3件):
G03G 15/00 ( 200 6.01) ,  G01N 21/88 ( 200 6.01) ,  G03G 21/00 ( 200 6.01)
FI (5件):
G03G 15/00 303 ,  G01N 21/88 J ,  G03G 21/00 ,  G03G 21/00 370 ,  G03G 21/00 510
引用特許:
出願人引用 (4件)
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