特許
J-GLOBAL ID:201703016558144620
光学センサ、分析装置および分析方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
特許業務法人スズエ国際特許事務所
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-051028
公開番号(公開出願番号):特開2017-166910
出願日: 2016年03月15日
公開日(公表日): 2017年09月21日
要約:
【課題】二次元領域に存在する分析されるべき対象からの光学的情報をより簡便に二次元的に得ることができる光学センサ、分析装置および分析方法を提供する。【解決手段】二次元領域にマトリックス状に並んでセンサ面4を形成する、複数のセンシング部13と、前記複数のセンシング部と対向して位置し、光透過性の底部21を有する、試料収容部20とを備える。【選択図】図1
請求項(抜粋):
二次元領域にマトリックス状に並んでセンサ面を形成する、複数のセンシング部と、
前記複数のセンシング部と対向して位置し、光透過性の底部を有する試料収容部と、
を備える光学センサ。
IPC (3件):
G01N 21/27
, G01N 21/64
, G01N 21/03
FI (3件):
G01N21/27 A
, G01N21/64 F
, G01N21/03 Z
Fターム (64件):
2G043AA03
, 2G043BA16
, 2G043DA05
, 2G043DA06
, 2G043EA01
, 2G043EA06
, 2G043EA14
, 2G043FA01
, 2G043FA02
, 2G043GA03
, 2G043GA07
, 2G043GB01
, 2G043HA01
, 2G043JA02
, 2G043JA03
, 2G043KA01
, 2G043KA02
, 2G043KA03
, 2G043KA05
, 2G043KA09
, 2G043LA03
, 2G057AA04
, 2G057AA14
, 2G057AB01
, 2G057AB02
, 2G057AB03
, 2G057AB04
, 2G057AC01
, 2G057BA01
, 2G057BB01
, 2G057BB06
, 2G057BD02
, 2G057BD04
, 2G057DA01
, 2G057DA02
, 2G057DA06
, 2G057DA08
, 2G057DB01
, 2G057DB02
, 2G059AA01
, 2G059AA05
, 2G059BB11
, 2G059BB13
, 2G059BB14
, 2G059DD12
, 2G059DD13
, 2G059DD15
, 2G059EE02
, 2G059EE06
, 2G059EE07
, 2G059EE11
, 2G059FF01
, 2G059FF03
, 2G059GG01
, 2G059GG02
, 2G059GG03
, 2G059HH01
, 2G059HH02
, 2G059HH03
, 2G059HH06
, 2G059JJ11
, 2G059KK04
, 2G059LL01
, 2G059MM05
引用特許:
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